Test Expert -- 上海翼甲信息科技有限公司

VayoPro-Test Expert 是一款电子制造业快速DFT分析及测试&检测程序快速制作必备软件。其最大化利用设计CAD数据与物料BOM数据，通过智能化融入测试工艺要求，快速实现准确DFT/测试覆盖率分析及快速实现ICT/飞针/AOI/X-ray测试程序制作，并可扩充测试夹具数据分析。使用该产品不仅可将数天的DFT分析工作大幅缩短至数分钟，而且可快速智能生成精细的测试&检测程序,充分缩短测试人员Debug调试时间及降低测试夹具成本。

专业全面的PCB数据解析，确保测试的准确性

无论您测试工作中遇到如下哪种PCB CAD数据或Gerber数据，VayoPro-Test Expert软件均可以智能识别数据类型，并专业、全面、准确协助您进行分析，同时直观展示给您，以便您参考应用。

CAD版本比较

比较不同版本的CAD数据源，输出元器件差异报告/ 网络差异报告；验证ECN/ECO通知信息；最大化共用测试夹具。

BOM分析校验

支持Text及Excel格式导入，自动检查BOM内部错误（重复元器件、数量不配匹、料号重复、遗漏元器件），输出准确的BOM供内部使用，减少人工校验疏漏。

详尽的测试选针设置，互动式结果查询分析

丰富灵活、直观明晰的选针设置及行业最优的测试针优化算法，保证了最佳的测试植针结果。您不但可以详细设定规则细节（大小、距离、种类、数量、优先级、强制位置等），还可以设置不同的多个选针规则系列，同时生成不同的结果用于比较差异。在浏览结果时，你不但可以看到不可测原因归类，还可以互动切换到PCB视图位置更直观了解详情制定调整方案。

优化选针结果（Net Link）

独有的Net Link功能可以发现通过0欧姆电阻、保险丝、开关等"连通"的网络，优化合并，从而提升测试网络覆盖率/可测率；或者保持覆盖率不下降的前提下，减少测试用针，降低夹具成本。

通过Gerber验证下针准确性

在生产中，用于PCB制作的Gerber有时会与PCB CAD不一致，导致测试点被阻焊层覆盖。VayoPro-Test Expert支持导入额外的Mask层Gerber，验证下针位置接触性，对于被覆盖的测试位置可以重新定位。

丰富实用的DFT分析内容，多样的可测试性报告格式

VayoPro-Test Expert可测试性报告富含丰富的内容：测试覆盖率百分比、测试网络详细报告、未测试网络详细报告、元器件报告、引脚下针覆盖报告、并联分析报告等；而且可以以不同文件格式展示：文本、PDF、Excel及Html。

设计在线测试夹具，快速制作ICT/MDA程序

强大的夹具设计功能，可以让您设计出最优化的夹具，输出各种夹具钻孔绕线等数据文档；同时可以生成各种MDA/ICT/ATE精细测试程序，支持的测试设备有Agilent, Teradyne/GenRad, Spea, TRI, Checksum, MTS, JET, Hioki, Areaflex/IFR, SRC, …

批量快速调整参数，生成优化飞针测试步骤

VayoPro-Test Expert输出飞针测试程序时，可以产生非常丰富的测试步骤，减少调整时间。同时您也可以批量调整参数如测试针偏移，自动产生open-check sensor位置数据等，使得输出的测试步骤更精细更精确。无论您的飞针测试设备是TAKAYA, SPEA, HIOKI, SEICA, 还是Acculogic, 您都可以在VayoPro-Test Expert找到输出接口，快速生成测试程序。